Motivazione

In anni recenti le applicazioni della Luce di Sincrotrone, dall'ambito della ricerca di base, stanno interessando via via maggiormente il campo della ricerca e sviluppo tecnologico. Numerosi laboratori di L.S. stanno portando avanti programmi di accesso dedicati ad aumentare il numero di utenti industriali e si sono dotati di dipartimenti specifici per sviluppare questi aspetti dell' utilizzo della L.S. La scienza e tecnologia dei materiali possono così beneficiare della disponibilità di una risorsa che si è evoluta al punto da poter essere usata come uno strumento nelle mani di ricercatorie tecnologi. La L.S. può fornire un grande numero di tecniche analitiche, alcune esclusive ed altre che si configurano come molto migliorate rispetto alle corrispondenti tecniche di laboratorio. Scopo di questa seconda edizione della scuola è fornire una introduzione alle principali tecniche di L.S. di interesse per la scienza e tecnologia dei materiali, con una attenzione specifica per i materiali nanocristallini e nanocomposti, i film sottili ed i rivestimenti. Il comune denominatore è dato dalla possibilità di studiare tali materiali a diversi livelli, dalla struttura atomica locale alla composizione chimica, alla struttura cristallina, alle proprietà microstrutturali reali.

1. EXAFS per la determinazione della struttura atomica locale;
2. XRD per la caratterizzazione delle proprietà microstrutturali reali;
3. SAXS per lo studio di cluster metallici, fasi sol-gel e filmsottili.

La scuola consiste di lezioni teoriche tenute da esperti in questi campi e di sessioni pratiche al computer, queste ultime dedicate per lo più all'analisi ed alla interpretazione dei dati. In aggiunta a queste tre tecniche specifiche, il programma include un'introduzione alle principali applicazioni della L.S. elezioni sui principi base di sorgenti, ottiche e rivelatori impiegati per le diverse applicazioni.