Elettra Fellow al prof. Ernst Bauer


 

Lo scorso 16 maggio è stata consegnata una targa ricordo al prof. Ernst Bauer, insignito del titolo di Elettra Fellow da parte del Consiglio di Amministrazione di Elettra Sincrotrone Trieste dd. 26 ottobre 2012.
Il titolo di Elettra Fellow viene attribuito annualmente a scienziati e amministratori di fama internazionale.




Il prof. Alfonso Franciosi, amministratore delegato di Elettra Sincrotrone Trieste, consegna la targa ricordo al prof. Ernst Bauer
(ph. Roberto Barnabà)

Il professor Ernst Bauer, illustre fisico ed esperto di scienza delle superfici, ha dato un contributo fondamentale all’analisi dei meccanismi della crescita epitassiale e allo sviluppo di tecniche microscopiche. Nel 1958 ha elaborato la classificazione delle dinamiche di crescita dei film sottili che a oggi costituisce la base di teoria termodinamica per lo studio dell’epitassia. Nel 1962 ha inventato il Microscopio a elettroni di bassa energia (Low Energy Electron Microscopy¸ LEEM), che è entrato in funzione nel 1985. Più recentemente ha sviluppato la tecnologia del LEEM in due direzioni di capitale importanza, creando il Microscopio a elettroni di bassa energia a spin polarizzato (Spin-Polarized Low Energy Electron Microscopy, SPLEEM) e il Microscopio a elettroni di bassa energia e a fotoemissione spettroscopica (Spectroscopic Photo Emission and Low Energy Electron Microscopy, SPELEEM). L’utilizzo di tali metodi ha reso possibile un’esaustiva caratterizzazione di superfici e film sottili (sotto il profilo strutturale, chimico, magnetico ed elettronico) su una scala di 10 mm. Il suo impegno per la definizione di tecniche microscopiche di radiazione sincrotronica e i quindici anni dedicati a Elettra hanno condotto allo sviluppo della Linea di nanospettroscopia, oggi tra più sofisticati dispositivi di investigazione microscopica al mondo. Nel corso degli anni ha offerto alla nostra équipe preziosissime indicazioni sulle strategie e sui progressi scientifici in una molteplicità di ambiti, dalle scienze delle superfici alla nanoscienza, fino all’indagine microscopica di superfici e film sottili, contribuendo in misura considerevole al successo della nostra organizzazione.

Ultima modifica il Martedì, 02 Luglio 2013 15:51